Автор(ы) | Брандон Д., Каплан У. |
---|---|
Издатель | Техносфера |
Год | 2006 |
ISBN | 5-94836-018-0 |
EAN | |
Обложка | Переплет |
Формат | 70х100/16 |
Вес (г) | 648 |
Страниц | 377 |
Просмотров | 19 |
Стандарт |
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.
Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Возможность скачать/купить Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ..epub у Техносфера
Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].