Автор(ы) | Эберхард К.Н. |
---|---|
Издатель | Техносфера |
Год | 2007 |
ISBN | 978-5-94836-121-5 |
EAN | |
Обложка | переплет |
Формат | |
Вес (г) | |
Страниц | 376 |
Просмотров | 17 |
Стандарт |
За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и oптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов.
В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические — например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкций структуры композитов.
Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Для специалистов, аспирантам
Возможность скачать/купить Микроскопические методы исследования материалов.doc у Техносфера
Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].