Автор(ы) | Батаев В.А. |
---|---|
Издатель | Флинта |
Год | 2007 |
ISBN | 978-5-9765-0207-9 |
EAN | |
Обложка | переплет |
Формат | |
Вес (г) | |
Страниц | 224 |
Просмотров | 16 |
Стандарт | 20 |
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
Учебное пособие для ВУЗов
Возможность скачать/купить Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. 2-е изд.fb2 у Флинта
Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].