Автор(ы) | Синдо Д., Оикава Т. |
---|---|
Издатель | Техносфера |
Год | 2006 |
ISBN | 5-94836-064-4 |
EAN | |
Обложка | Переплет |
Формат | 60х90/16 |
Вес (г) | 368 |
Страниц | 253 |
Просмотров | 48 |
Стандарт |
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.
Настольная книга материаловеда.
Возможность скачать/купить Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ..pdf у Техносфера
Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].