Автор(ы) | Китайский В.Е. |
---|---|
Издатель | РГИИС |
Год | 2005 |
ISBN | |
EAN | |
Обложка | переплет |
Формат | |
Вес (г) | |
Страниц | 342 |
Просмотров | 24 |
Стандарт |
Учебник «Основы патентной экспертизы» предназначен для студентов и слушателей всех форм обучения Российского государственного института интеллектуальной собственности, специализирующихся в области создания, охраны и коммерческого использования объектов промышленной собственности -изобретений, полезных моделей, промышленных образцов, товарных знаков и наименований мест происхождения товаров. В учебнике подробно освещены вопросы подготовки заявочных материалов, их подачи и рассмотрения в Федеральном органе исполнительной власти по интеллектуальной собственности и поэтому он может быть полезным для патентных работников предприятий, сотрудников фирм патентных поверенных и для полготовки к сдаче квалификационных экзаменов кандидатов патентных поверенных. При составлении учебника были учтены мнения, использованы работы и результаты исследований специалистов в области патентной экспертизы различных объектов промышленной собственности: О.Л. Алексеевой, Р.С. Восканяна, С.А. Горленко, В.Ю. Джермакяна, В.Н. Забелина, В.К. Казаковой, А.Д. Корчагина, А.А. Минаева, В.В. Орловой, Е.П. Полищука, Н.Н. Разумовской, Л.В. Сабоды, В.В. Сеньковского, В.Б. Талянского и многих других, содержащиеся в приведенном в конце книги списке литературы.
Учебник для студентов и слушат РГИИС
Возможность скачать/купить Патентная экспертиза.fb2 у РГИИС
Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].