Книжный интернет-фонд "Книга-Дива.ру". Все ваши книги в одном месте - здесь!

Фундаментальные основы анализа нанопленок. Пер. с анг.(серя: Фундаментальные основы нанотехнологий. Лучшие зарубежные учебники).
Автор(ы)Альфорд Терри Л., Фельдман Леонард К., Майер Джжеймс В.
ИздательНаучный мир
Год2012
ISBN978-5-91522-225-9
EAN
Обложкапереплет
Формат
Вес (г)
Страниц392
Просмотров18
Стандарт
Описание

Возможность скачать/купить Фундаментальные основы анализа нанопленок. Пер. с анг.(серя: Фундаментальные основы нанотехнологий. Лучшие зарубежные учебники). .fb2 у Научный мир

Поделиться с друзьями!

Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].