Автор(ы) | Беккер Ю. |
---|---|
Издатель | Техносфера |
Год | 2009 |
ISBN | 978-5-94836-220-5 |
EAN | |
Обложка | Переплет |
Формат | 70х100/16 |
Вес (г) | 870 |
Страниц | 527 |
Просмотров | 36 |
Стандарт |
Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и твердых веществ, позволяют изучать поверхностные слои материалов, проводить локальный и послойный анализ. В настоящей монографии дается обзор различных современных методов ядерной, атомной, ионной и молекулярной спектрометрии, а также приборов, реализующих эти методы. Рассматриваются многие аналитические проблемы, решаемые в лабораториях промышленных предприятий, в естественнонаучных и технических учреждениях, а также вопросы изучения и защиты объектов окружающей среды.
Возможность скачать/купить Спектроскопия: пер. с нем..pdf у Техносфера
Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].