| Автор(ы) | Беккер Ю. |
|---|---|
| Издатель | Техносфера |
| Год | 2009 |
| ISBN | 978-5-94836-220-5 |
| EAN | |
| Обложка | Переплет |
| Формат | 70х100/16 |
| Вес (г) | 870 |
| Страниц | 527 |
| Просмотров | 107 |
| Стандарт |
Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и твердых веществ, позволяют изучать поверхностные слои материалов, проводить локальный и послойный анализ. В настоящей монографии дается обзор различных современных методов ядерной, атомной, ионной и молекулярной спектрометрии, а также приборов, реализующих эти методы. Рассматриваются многие аналитические проблемы, решаемые в лабораториях промышленных предприятий, в естественнонаучных и технических учреждениях, а также вопросы изучения и защиты объектов окружающей среды.
Возможность скачать/купить Спектроскопия: пер. с нем..fb2 у Техносфера
Хотите эту книгу/словарь/учебник в переплёте или в формате fb2 epub mobi doc docx djvu txt pdf? Нажимайте ниже ссылки или кнопки [В магазин] или [Читать].